Все
  • Все
  • Управление продуктами
  • Новости и информация

Продукт

Продукт

Продукт


Приборная установка для анализа микротечений фотонов EMMI

Оборудование системы анализа локализации фотонной микротечи EMMI является важным инструментом для анализа отказов в интегральных схемах; локализация утечек тока является незаменимым средством для специалистов, занимающихся анализом неисправностей.

Узнать больше >

Автоматическая зондовая платформа

Компания Shenzhen Sendongbao Technology Co., Ltd. представляет серию полностью автоматических станков для тестирования кристаллов, которые подходят для испытаний пластин размером от 4 до 12 дюймов. Оборудование может быть настроено под различные условия тестирования, включая высокие и низкие температуры, высокое напряжение и минимальные утечки тока. Устройства отличаются простотой в использовании, стабильностью работы, а также обладают такими характеристиками, как высокая точность, высокая эффективность, низкий уровень вибрации и шума.

Узнать больше >

Полуавтоматическая зондовая платформа CP300

Оптическая система отображения с многократным увеличением

Тестирование кристаллов диаметрами 12 дюймов, 8 дюймов, 6 дюймов и 4 дюйма, а также фрагментарное тестирование.

Внутренняя воздушная амортизационная система, эффективно изолирующая от внешних вибраций.

Комплексная система управления, быстрое подключение к приборам для тестирования

Автоматизированное программное тестирование, точная калибровка механической точности

Скорость перемещения по осям X-Y: 70 мм/сек, точность повторного позиционирования: ≤±1 мкм

Скорость перемещения по оси Z: 20 мм/сек, повторная точность позиционирования по оси Z: ≤± мкм

Точность оси R: 0,0001°, повторяемость позиционирования: ≤±1 мкм

Узнать больше >

Криогенная сверхпроводящая вакуумная зондовая платформа CRX-SM

Температурный диапазон: 8 К – 300 К

Предельный вакуум превышает 5 × 10⁻⁶ торр.

Поддержка 6 зондовых рукавов, поддержка постоянного тока; точность измерения утечки тока превышает 100 фА.

Поддержка радиочастотных тестов в диапазоне частот от 0 до 110 ГГц.

Поддержка оптических тестов, диапазон длин волн: 190 нм – 2200 нм

Измерения Холла и магнитные транспортные измерения

Тип магнита: сверхпроводящий магнит

Узнать больше >

Высококлассная зондовая платформа CH

Типовая зондовая платформа CINDBEST CH — это полнофункциональная и высоко совместимая зондовая платформа.

Может обеспечивать тестирование различных образцов, особенно крупногабаритных, таких как 8-дюймовые и 12-дюймовые кристаллические подложки и т. д.

Также может быть использован для тестирования различных приложений, таких как постоянный ток, радиочастотные испытания и т.д.

Узнать больше >

Двусторонняя зондирующая платформа CH-8-D

Тестовая платформа с двусторонними игольчатыми зондами CINDBEST CH-8-D предназначена для тестирования кристаллов и печатных плат, позволяя одновременно производить проколы как с лицевой, так и с обратной сторон. Это делает её идеальным решением для оборудования, предназначенного для выполнения разнообразных оптических и электрических тестов.

Данная индивидуально разработанная зондовая платформа обладает превосходной механической системой, стабильной конструкцией, эргономичным дизайном и множеством усовершенствованных функций.

Узнать больше >

Простая зондовая платформа CM-4

Пробоотборная система серии CM отличается компактным дизайном, высокой точностью измерений и удобством в эксплуатации, а также соответствует принципам эргономики.

Основное применение — в тестировании PIV I-V/C-V, а также в полупроводниковой и оптоэлектронной отраслях.

Широко применяется в разработке и проведении точных электрических измерений для сложных высокоскоростных устройств.

Узнать больше >

Малогабаритная зондирующая платформа CS

Пробоотборные станции серии CS отличаются компактным дизайном, высокой точностью измерений и удобством в эксплуатации, а также соответствуют принципам эргономики.

Основное применение — тестирование в полупроводниковой и оптоэлектронной отраслях.

Широко применяется в разработке и проведении точных электрических измерений для сложных высокоскоростных устройств.

Узнать больше >