-
-
Криогенная низковакуумная зондовая платформа с высокой и низкой температурой
Подробнее
-
Вакуумная высокотемпературная и низкотемпературная зондовая платформа серии CGO
Подробнее
-
Вакуумная высокотемпературная зондовая платформа с замкнутым циклом серии CRX
Подробнее
-
Вакуумная высокотемпературная зондовая платформа M001
Подробнее
-
Вакуумная высокотемпературная зондовая платформа M002
Подробнее
-
Криогенная сверхпроводящая вакуумная зондовая платформа CRX-SM
Подробнее
-
Приборная установка для анализа микротечений фотонов EMMI
Подробнее
-
Прибор для тестирования полупроводниковых параметров FS-Pro
Подробнее
-
Анализатор пьезоэлектрической проводимости TF Analyzer 1000
Подробнее
-
Анализатор пьезоэлектрических свойств TF Analyzer 2000E
Подробнее
-
Сигнальные/спектральные анализаторы серии 4051A/B/C/D/E–S
Подробнее
-
Термоэлектрический вольтамперометр TF Analyzer 3000
Подробнее
Продукт
-
-
-
-
-
Apr 03,2024
Классификация и соответствующие параметры термостатов для высоких и низких температур
Высокотемпературно-низкотемпературная зондовая установка — это промышленный испытательный прибор, применяемый в области информационных и системных наук. Он предназначен главным образом для тестирования электрических характеристик микроструктурных полупроводниковых устройств, микроэлектронных компонентов и материалов в различных условиях окружающей среды и температурных режимах. В зависимости от функциональных особенностей и сфер применения высокотемпературно-низкотемпературные зондовые установки подразделяются на несколько типов, включая, помимо прочего:
Вакуумная зондовая платформа для высоких и низких температур: такая платформа позволяет проводить испытания при высоких и низких температурах в вакуумной среде, что делает её идеальной для характеристики и измерения электрических свойств материалов в условиях вакуума. Диапазон температур обычно охватывает интервал от температуры жидкого гелия (примерно 4 К) до высоких температур (например, до 475 К), при этом обеспечивается высокая точность и стабильность контроля температуры.
Радиочастотная установка с высокотемпературной и низкотемпературной зондовой платформой: такая установка позволяет проводить радиочастотные тесты в условиях высоких и низких температур и предназначена для характеристики радиочастотных свойств полупроводниковых устройств. Ее диапазон температур и точность регулирования температуры аналогичны параметрам вакуумной высокотемпературной и низкотемпературной зондовой установки, однако дополнительно оснащена функцией радиочастотного тестирования, что обеспечивает возможность измерения радиочастотных характеристик устройств.
Оптическая высокотемпературная и низкотемпературная зондовая платформа: эта платформа объединяет функции оптического микроскопа и высокотемпературного/низкотемпературного тестирования, позволяя проводить наблюдения за микроструктурой образцов и оценивать их электрические свойства в условиях высоких и низких температур. Диапазон температур и точность её термостатирования аналогичны другим типам высокотемпературных и низкотемпературных зондовых платформ, однако данная модель дополнительно оснащена оптическим микроскопом с высоким разрешением, что обеспечивает возможность детального изучения образцов на микронном уровне.
Соответствующие параметры приведены ниже:
Диапазон температур: это минимальный и максимальный температурные пределы, которые может обеспечить зондовая платформа; обычно они указываются в кельвинах (К). Различные высокотемпературные и низкотемпературные зондовые платформы обладают разными диапазонами температур и подходят для выполнения различных тестовых задач.
Точность регулирования температуры: характеризует способность зонда к точному контролю температуры, обычно выражается в градусах Цельсия (°C) или Кельвинах (K). Чем выше точность контроля температуры, тем более точными и надежными являются результаты тестирования.
Стабильность температуры: способность зонда-подставки поддерживать заданную температуру с высокой точностью, обычно выражаемая в градусах Цельсия в минуту (°C/мин) или кельвинах в минуту (К/мин). Чем выше стабильность температуры, тем надежнее результаты тестирования.
Размеры и форма образца: подразумевают диапазон размеров и форм образцов, которые может вместить зондовая платформа. Различные высокотемпературные и низкотемпературные зондовые платформы имеют свои собственные требования к размерам и форме рабочей поверхности; выбор следует осуществлять в соответствии с конкретными потребностями испытаний.
Количество и тип зондов: речь идет о количестве и типах зондов, установленных на зондовой платформе. Различные высокотемпературные и низкотемпературные зондовые платформы обладают различным количеством и типами зондов, которые можно выбирать и настраивать в соответствии с требованиями испытаний.
Следует отметить, что приведённые выше — это лишь некоторые общие параметры высокотемпературных и низкотемпературных зондовых стендов; фактические параметры могут варьироваться в зависимости от модели и производителя. При выборе высокотемпературного или низкотемпературного зондового стенда необходимо учитывать конкретные эксплуатационные потребности и требования к тестированию, чтобы подобрать подходящую модель и технические характеристики.
Высокотемпературно-низкотемпературная зондовая установка — это промышленный испытательный прибор, применяемый в области информационных и системных наук. Он предназначен главным образом для тестирования электрических характеристик микроструктурных полупроводниковых устройств, микроэлектронных компонентов и материалов в различных условиях окружающей среды и температурных режимах. В зависимости от функциональных особенностей и сфер применения высокотемпературно-низкотемпературные зондовые установки подразделяются на несколько типов, включая, помимо прочего:
Вакуумная зондовая платформа для высоких и низких температур: такая платформа позволяет проводить испытания при высоких и низких температурах в вакуумной среде, что делает её идеальной для характеристики и измерения электрических свойств материалов в условиях вакуума. Диапазон температур обычно охватывает интервал от температуры жидкого гелия (примерно 4 К) до высоких температур (например, до 475 К), при этом обеспечивается высокая точность и стабильность контроля температуры.
Радиочастотная установка с высокотемпературной и низкотемпературной зондовой платформой: такая установка позволяет проводить радиочастотные тесты в условиях высоких и низких температур и предназначена для характеристики радиочастотных свойств полупроводниковых устройств. Ее диапазон температур и точность регулирования температуры аналогичны параметрам вакуумной высокотемпературной и низкотемпературной зондовой установки, однако дополнительно оснащена функцией радиочастотного тестирования, что обеспечивает возможность измерения радиочастотных характеристик устройств.
Оптическая высокотемпературная и низкотемпературная зондовая платформа: эта платформа объединяет функции оптического микроскопа и высокотемпературного/низкотемпературного тестирования, позволяя проводить наблюдения за микроструктурой образцов и оценивать их электрические свойства в условиях высоких и низких температур. Диапазон температур и точность её термостатирования аналогичны другим типам высокотемпературных и низкотемпературных зондовых платформ, однако данная модель дополнительно оснащена оптическим микроскопом с высоким разрешением, что обеспечивает возможность детального изучения образцов на микронном уровне.
Соответствующие параметры приведены ниже:
Диапазон температур: это минимальный и максимальный температурные пределы, которые может обеспечить зондовая платформа; обычно они указываются в кельвинах (К). Различные высокотемпературные и низкотемпературные зондовые платформы обладают разными диапазонами температур и подходят для выполнения различных тестовых задач.
Точность регулирования температуры: характеризует способность зонда к точному контролю температуры, обычно выражается в градусах Цельсия (°C) или Кельвинах (K). Чем выше точность контроля температуры, тем более точными и надежными являются результаты тестирования.
Стабильность температуры: способность зонда-подставки поддерживать заданную температуру с высокой точностью, обычно выражаемая в градусах Цельсия в минуту (°C/мин) или кельвинах в минуту (К/мин). Чем выше стабильность температуры, тем надежнее результаты тестирования.
Размеры и форма образца: подразумевают диапазон размеров и форм образцов, которые может вместить зондовая платформа. Различные высокотемпературные и низкотемпературные зондовые платформы имеют свои собственные требования к размерам и форме рабочей поверхности; выбор следует осуществлять в соответствии с конкретными потребностями испытаний.
Количество и тип зондов: речь идет о количестве и типах зондов, установленных на зондовой платформе. Различные высокотемпературные и низкотемпературные зондовые платформы обладают различным количеством и типами зондов, которые можно выбирать и настраивать в соответствии с требованиями испытаний.
Следует отметить, что приведённые выше — это лишь некоторые общие параметры высокотемпературных и низкотемпературных зондовых стендов; фактические параметры могут варьироваться в зависимости от модели и производителя. При выборе высокотемпературного или низкотемпературного зондового стенда необходимо учитывать конкретные эксплуатационные потребности и требования к тестированию, чтобы подобрать подходящую модель и технические характеристики.
Предыдущая страница: О принципах работы и областях применения магнитных зондовых стендов
Следующая страница: Обзор особенностей волноводных зондов и их применение в технической сфере
Новости