-
-
Криогенная низковакуумная зондовая платформа с высокой и низкой температурой
Подробнее
-
Вакуумная высокотемпературная и низкотемпературная зондовая платформа серии CGO
Подробнее
-
Вакуумная высокотемпературная зондовая платформа с замкнутым циклом серии CRX
Подробнее
-
Вакуумная высокотемпературная зондовая платформа M001
Подробнее
-
Вакуумная высокотемпературная зондовая платформа M002
Подробнее
-
Криогенная сверхпроводящая вакуумная зондовая платформа CRX-SM
Подробнее
-
Приборная установка для анализа микротечений фотонов EMMI
Подробнее
-
Прибор для тестирования полупроводниковых параметров FS-Pro
Подробнее
-
Анализатор пьезоэлектрической проводимости TF Analyzer 1000
Подробнее
-
Анализатор пьезоэлектрических свойств TF Analyzer 2000E
Подробнее
-
Сигнальные/спектральные анализаторы серии 4051A/B/C/D/E–S
Подробнее
-
Термоэлектрический вольтамперометр TF Analyzer 3000
Подробнее
Продукт
-
-
-
-
-
Другие тесты
1. Высокочастотные/радиочастотные (RF) испытания
Основная задача — измерение электрических характеристик полупроводниковых приборов в условиях высокочастотных сигналов и оценка пределов их высокочастотных характеристик. С помощью микроволновых зондов устанавливается высокочастотное соединение, что позволяет получать ключевые параметры, такие как S-параметры (характеристики отражения/передачи), коэффициент усиления и коэффициент шума, необходимые для проверки производительности радиочастотных чипов, например, усилителей и фильтров.
2. Термальные (высокотемпературные и низкотемпературные) испытания
Основная задача — имитация рабочего состояния аналоговых устройств в экстремальных температурных условиях с целью проверки их термостабильности и надежности. Для этого зондовая установка размещается в термокамере, где в диапазоне от -196°C (жидкий азот) до более 300°C проводятся одновременные электрические тесты, такие как IV- и CV-измерения, с целью выявления возможных температурно-зависимых деградаций характеристик или отказов.
3. Испытание на напряжение
Основная идея заключается в том, чтобы ускорить процесс старения устройства путем приложения внешних напряжений, что позволяет заранее выявить потенциальные риски надежности. Среди распространённых методов — электрические нагрузки (например, постоянное напряжение или ток для тестирования срока службы устройства) и механические нагрузки (например, испытания на давление зонда, имитирующие механическое воздействие во время сборки и эксплуатации).
Второе: основное тестовое оборудование и распределение обязанностей
1. Источник-метр: основной блок «генерация + измерение», обеспечивающий точную подачу сигналов напряжения/тока (генерация) и одновременное высокоточное измерение соответствующих значений тока/напряжения (реакция), что позволяет непосредственно выполнять тестирование ВАХ.
2. Емкостной измеритель (измеритель емкости) / LCR-метр: используется для тестирования СВ-характеристик, подает малые переменные сигналы и позволяет измерять такие параметры устройств, как емкость, индуктивность и сопротивление, а также анализировать их характеристики хранения заряда.
3. Зондовая платформа: центральный «соединительный» узел, который обеспечивает стабильное и низкошумное электрическое соединение за счёт контакта микрометровых зондовых игл с электродными площадками устройств, создавая тем самым основу для тестирования миниатюрных компонентов.
4. Система управления температурой (опционально): при необходимости проведения испытаний при высоких и низких температурах зондовая платформа может быть интегрирована в термокамеру для моделирования реальных условий эксплуатации устройства.